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X荧光光谱测金仪|贵金属纯度检测仪|黄金纯度检测仪

X荧光光谱测金仪|贵金属纯度检测仪|黄金纯度检测仪--点击浏览大图
“X荧光光谱测金仪|贵金属纯度检测仪|黄金纯度检测仪”参数说明
元素: 金属元素分析仪
“X荧光光谱测金仪|贵金属纯度检测仪|黄金纯度检测仪”详细介绍
硬件独特性: 集成计算机,无需再外接电脑,计算机采用高集成工控主板,多点手触屏,操作流畅便捷;加装自动防辐射泄漏装置,主动性的保证使用人员安全;可轻松解决贵金属行业无损分析的要求,为贵金属行业性价比最好的光谱仪之一。
软件优越性:菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算系统;计算报告的打印格式多样化,完全满足客户各种形式的打印要求。
激发源:Mo靶的X光管 风冷 (无辐射)
探测器:固定式半导体封气正比计数器
高压装置:0~50KV(国产) ?0~1mA
其它规格:
电压:交流220V/50Hz
最大功率: 120W
最大处尺寸: 450mm*650mm*350mm
重量: 32kg
技术指标:
分析范围:1% ~ 99.99%
测量时间:自适应
测量精度:± 10ppm ~ 0.2%
测试环境:常温常态
分析元素:检测物质涵盖贵金属行业全部金属及补口,包括黄金Au(包括K金),铂金Pt,白银Ag,钯金Pd,铜Cu,锌Zn,镍Ni等等。
X射线源:MO靶X射线光管
高压器: 0~50KV(国产) ?0~1mA
操作系统: Windows2000/Me/XP
镀层测量:
镀层厚度范围<30μm
最大测量层数:5层
测量精度:0.03μm
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编辑:泰安百荣精密仪器设备有限公司  时间:2018/05/11

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